參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

元素種類及含量檢測(cè)：覆蓋原子序數(shù)Z≥5（硼及以上）元素,，含量范圍0.01%~100%

能量分辨率測(cè)試：全譜半高寬（FWHM）≤130eV（Mn Kα線,，5.9keV）

峰背比分析：目標(biāo)元素特征峰與背景信號(hào)強(qiáng)度比≥100:1

檢測(cè)限驗(yàn)證：最低檢出濃度≤0.01wt%（輕元素）或≤0.005wt%（重元素）

穩(wěn)定性測(cè)試：連續(xù)8小時(shí)工作期間，能量漂移≤±2eV

檢測(cè)范圍

金屬材料：鋁合金,、鈦合金,、高溫合金中的主量/痕量元素分析

半導(dǎo)體器件：硅晶圓摻雜元素（磷、砷等）分布檢測(cè)

環(huán)境樣品：土壤/水體中重金屬（鉛,、汞,、鎘等）污染評(píng)估

生物醫(yī)學(xué)樣品：骨骼/牙齒中鈣磷比測(cè)定，植入物成分驗(yàn)證

地質(zhì)礦物：稀土元素（鑭系）賦存狀態(tài)與含量分析

檢測(cè)方法

ASTM E1508-20：標(biāo)準(zhǔn)能譜儀校準(zhǔn)與數(shù)據(jù)采集規(guī)程

ISO 15632:2021：微束分析-能譜儀性能參數(shù)測(cè)試方法

GB/T 17359-2023：微束分析能譜法定量分析通則

GB/T 19500-2023：X射線光電子能譜分析方法通則

IEC 62462:2019：能譜儀系統(tǒng)穩(wěn)定性驗(yàn)證技術(shù)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Fisher Scientific NORAN System 7：配備硅漂移探測(cè)器（SDD）,，能量分辨率≤123eV,，支持Mapping面分布分析

Bruker QUANTAX 200：集成脈沖處理器（DPP），最大輸入計(jì)數(shù)率≥500kcps,，支持無窗膜輕元素檢測(cè)

Oxford Instruments X-MaxN 80：80mm2探測(cè)器有效面積,，配備AztecLive實(shí)時(shí)成分分析系統(tǒng)

HORIBA EMAX Evolution：搭載多通道分析儀（MCA），支持同步能譜與波譜聯(lián)用

JEOL JED-2300：集成自動(dòng)準(zhǔn)直系統(tǒng),，束斑尺寸可調(diào)范圍10nm~1μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)